>Legislação > Atos de Certificação de Produtos > 2017 > Ato nº 14665, de 12 de dezembro de 2017

Ato nº 14665, de 12 de dezembro de 2017

Publicado: Terça, 06 Fevereiro 2018 14:16 | Última atualização: Quinta, 21 Janeiro 2021 11:44 | Acessos: 7545

Observação: Este texto não substitui o publicado no Boletim de Serviço Eletrônico em 6/2/2018.

O SUPERINTENDENTE DE OUTORGA E RECURSOS À PRESTAÇÃO - ANATEL, no uso das atribuições que lhe foram conferidas pela Portaria nº 419, de 24 de maio de 2013, e

CONSIDERANDO a competência dada pelos Incisos XIII e XIV do Art. 19 da Lei n.º 9.472/97 – Lei Geral de Telecomunicações;

CONSIDERANDO o Inciso II do Art. 9º do Regulamento para Certificação e Homologação de Produtos para Telecomunicações, aprovado pela Resolução n.º 242, de 30 de novembro de 2000;

CONSIDERANDO o Art. 1º da Portaria nº 419 de 24 de maio de 2013;

CONSIDERANDO o constante dos autos do processo nº 53500.084675/2017-85;

RESOLVE:

Art. 1º Aprovar os requisitos técnicos para avaliação da conformidade do produto "Interfaces STM-N", conforme o Anexo I deste Ato.

Art. 2º Este Ato entra em vigor na data de sua publicação no Boletim de Serviço Eletrônico da Anatel.

VITOR ELISIO GOES DE OLIVEIRA MENEZES

Superintendente de Outorga e Recursos à Prestação

ANEXO I

REQUISITOS TÉCNICOS PARA AVALIAÇÃO DA CONFORMIDADE DO PRODUTO INTERFACES STM-N

1. OBJETIVO

1.1. Estabelecer requisitos mínimos, para efeito de certificação e homologação junto à Agência Nacional de Telecomunicações, a serem demonstrados na avaliação da conformidade de interfaces de comunicação padrões STM-1, STM-4, STM-16 e STM-64.

2. REFERÊNCIAS NORMATIVAS

2.1. Recomendação G.703 do ITU-T (11/2001) - Physical/electrical characteristics of hierarchical digital interfaces;

2.2. Recomendação G.691 do ITU-T (03/2006) - Optical interfaces for single channel STM-64 and other SDH systems with optical amplifiers;

2.3. Recomendação G.783 do ITU-T (03/2006) - Characteristics of synchronous digital hierarchy (SDH) equipment functional blocks;

2.4. Recomendação G.664 do ITU-T (10/2012) - Optical safety procedures and requirements for optical transmission systems;

2.5. Recomendação G.825 do ITU-T (2000)/Amd.1 (05/2008) - The control of jitter and wander within digital networks which are based on the synchronous digital hierarchy (SDH);

2.6. Recomendação G.957 do ITU-T (março de 2006) - Optical interfaces for equipments and systems relating to the synchronous digital hierarchy;

2.7. Recomendação G.693 : Optical interfaces for intra-office systems;

2.8. Recomendação G.959.1 : Optical transport network physical layer interfaces;

3. REQUISITOS APLICÁVEIS

3.1. Interfaces STM-1 (Elétrica)

3.1.1. Requisitos:

3.1.1.1. Os equipamentos que contenham Interface STM-1 Elétrica devem atender ao seguintes requisitos da norma G.703 (11/2001) - Physical/electrical characteristics of hierarchical digital interfaces:

a) Item 15, com exceção da máscara do bit 0 que deve ser usada a da errata 1 da Recomendação G.703 (11/2001).

3.2. Parâmetros ópticos das interfaces STM-1, STM-4, STM-16 e STM-64

3.2.1. Equipamentos que incorporam interfaces STM-1, STM-4 e STM-16 devem atender aos seguintes itens da Recomendação G.957 (03/2006) - Optical interfaces for equipments and systems relating to the synchronous digital hierarchy:

a) Itens aplicáveis ao Multiplex SDH: 6.1, 6.2.2, 6.2.3, 6.2.4, 6.2.5, 6.3.2, 6.3.3, 6.4.1 e 6.4.2.

b) Para demais equipamentos com interfaces STM, os itens aplicáveis são: 6.1, 6.2.3, 6.2.4, 6.2.5 e 6.4.1.

c) Aplicar parâmetros das seguintes tabelas:

Para interface STM-1: Tabela 2;

Para interface STM-4: Tabela 3;

Para interface STM-16: Tabela 4.

3.2.2. Equipamentos que incorporam Interfaces STM-64 deve atender aos seguintes itens da Recomendação G.691 (03/2006) - Optical interfaces for single channel STM-64 and other SDH systems with optical amplifiers:

a) Itens aplicáveis ao Multiplex SDH: 6.1, 6.2.1, 6.2.2, 6.2.3, 6.2.4, 6.3.2.1, 6.3.4, 6.4.1 e 6.4.2.

b) Para demais equipamentos com interfaces STM, os itens aplicáveis são: 6.1, 6.2.2, 6.2.3, 6.2.4 e 6.4.1.

c) Aplicar parâmetros das seguintes tabelas:

Tabela 5a/G.691 - Parâmetros: vide norma G.693 e G.959.1;

Table 5b/G.691 – Parâmetros vide norma G.959.1;

Table 5c/G.691 – Parâmetros vide norma G.959.1;

Table 5d/G.691 – Parâmetros vide norma G.691.

3.3. Jitter

3.3.1. Equipamentos que incorporam Interfaces STM devem atender aos requisitos vigentes referentes à Recomendação G.783 (03/2006) - Characteristics of synchronous digital hierarchy (SDH) equipment functional blocks:

a) Item 15.1.1 (observar Tabela 1 da Recomendação ITU-T G. 825 (2000) / Amd.1 (05/2008));

b) Item 15.1.2 (observar Recomendação ITU-T G. 783 (2006)/Amd.1 (05/2008), item 9.3.1.1).

3.4. Segurança óptica

3.4.1. Equipamentos que incorporam Interfaces STM Ópticas devem atender ao Apêndice II da Recomendação G.664 (10/2012) - Optical Safety procedures and requirements for optical transport systems.

3.5. Observações

3.5.1. Quando o equipamento não suportar tributários, deverá ser incluída no certificado a seguinte frase: "A(s) interface(s) STM-N não suporta(m) transmissão ou multiplexação de tributários".

3.5.2. Quando o equipamento suportar tributários, ou tiver característica de multiplex SDH, deverão ser realizados os ensaios adicionais descritos no item 4.15. Neste caso, na avaliação da conformidade, o OCD deverá indicar, no campo das características técnicas do Certificado de Conformidade e do Relatório de Avaliação da Conformidade, o suporte à transmissão de tributários.

4. PROCEDIMENTOS DE ENSAIO

4.1. Características da Interface STM-1 Elétrica

4.1.1. Formato do Pulso

4.1.1.1. A montagem de referência para testes para equipamentos com tributários STM-1 deve ser conforme Figura 1.

Figura 1. Equipamentos com Tributários STM-1.

4.1.1.2. Instrumental de teste:

a) Instrumento de medida SDH;

b) Atenuador óptico;

c) Osciloscópio.

4.1.1.3. Procedimento de teste para equipamentos com tributários STM-1:

a) Programar o instrumento de medida SDH para gerar um sinal elétrico;

b) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na sua saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

c) Através do osciloscópio, medir o sinal de saída de 155.520 kbit/s no equipamento em teste e verificar que o sinal esteja dentro dos limites especificados nas Figuras 2 e 3.

Figura 2. Máscara do Pulso Correspondente ao Binário 0.

Figura 3. Figura 2. Máscara do Pulso Correspondente ao Binário 1.

Nota 1: Para todas as medidas que usam estas máscaras o sinal deve ser acoplado AC com um capacitor ≥ 0,01 μF à entrada do osciloscópio utilizado para as medidas. O nível zero nominal para ambas as máscaras deve ser alinhado com o traço do osciloscópio sem o sinal de entrada. Quando o sinal for aplicado, a posição vertical do traço pode ser ajustada com o objetivo de encontrar os limites das máscaras. Qualquer ajuste deve ser o mesmo para ambas as máscaras e não deve exceder a ± 0,05 V. Isto pode ser verificado retirando-se novamente o sinal de entrada e observando se o traço está dentro do intervalo ± 0,05 V do nível zero nominal das máscaras.

Nota 2: Cada pulso dentro de uma sequência codificada deve atender aos limites da máscara, independentemente do estado anterior ou posterior do pulso, com as máscaras do pulso fixas em relação a uma referência de sincronismo comum, isto é, com as bordas de início e fim nominais coincidentes. As máscaras levam em conta o "jitter" de alta frequência causado por interferência intersimbólica o estágio de saída, mas não o "jitter" presente no sinal de relógio associado à fonte do sinal na interface. Quando se utiliza um osciloscópio para determinar se o pulso está de acordo com a máscara, é importante que traços sucessivos do pulso se superponham para suprimir os efeitos do "jitter" de baixa frequência. Isto pode ser realizado com várias técnicas, por exemplo, gatilhando o osciloscópio como para os circuitos de saída dos pulsos.

Nota 3: A amplitude máxima em regime não deve exceder oao limite de 0,55 V. "Overshoots" e outros transientes são permitidos apenas dentro da área pontilhada, limitada pelos níveis de amplitude 0,55 V e 0,6 V, fornecidos para aqueles que não excedam ao nível de regime de mais que 0,05 V (O valor 0,05 V está em estudo).

Nota 4: Para o caso destas máscaras, os tempos de subida e descida devem ser medidos entre -0,4 V e 0,4 V não devendo exceder 2 ns.

Nota 5: O pulso inverso terá as mesmas características, notando-se que a tolerância de tempo ao nível das transições negativas e positivas são ± 0,1 ns e 0,5 ns, respectivamente.

d) Repetir o procedimento acima para outras interfaces STM-1 do equipamento em teste.

4.1.1.4. A montagem de referência para testes para equipamentos com sinal agregado STM-1 deve estar conforme Figura 4.

Figura 4. Equipamentos com Sinal Agregado STM-1.

4.1.1.5. Instrumental de teste:

a) Gerador de padrões PDH;

b) Osciloscópio.

4.1.1.6. Procedimento de teste para equipamentos com sinal agregado STM-1:

a) Programar o gerador PDH para gerar um sinal de acordo com a interface de tributário do equipamento em teste;

b) Repetir a alínea c) do item 4.1.1.3.

4.1.2. Perda de Retorno na Entrada:

4.1.2.1. A montagem de referência para teste deve estar conforme Figura 5.

Figura 5.

4.1.2.2. Instrumental de teste:

a) Gerador Senoidal (GS);

b) Medidor Seletivos (MS);

c) Ponte de Perda de Retorno.

4.1.2.3. Procedimento de teste:

a) Fazer as conexões de acordo com a montagem de teste, onde o ponto Ain é a interface de entrada de tributário de 155.520 kbit/s;

b) Com a chave K aberta, ajustar o nível do GS de forma que o MS indique um valor de referência VR na frequência de teste utilizada;

c) Fechar a chave K e anotar a leitura VM (dBm) obtida no MS;

d) A Perda de Retorno é dada por: PR = VR - VM;

e) Realizar o procedimento descrito para frequências de teste na faixa especificada no item 4.1.2.4.

f) Repetir todo o procedimento acima para outras portas de 155.520 kbit/s.

4.1.2.4. Valores de Referência:

a) Perda de retorno ≥ 15 dB na faixa de 8 a 240 MHz.

4.1.3. Geração de Jitter

4.1.3.1. A montagem de referência para teste está apresentada na Figura 6.

Figura 6.

4.1.3.2. Instrumental de teste:

a) Instrumento de Medida SDH;

b) Atenuador óptico;

c) Medidor de Jitter;

d) Sintetizador;

e) Simulador de Cabo com atenuação de 12,7 dB em 78MHz.

4.1.3.3. Procedimento de teste:

a) Programar o instrumento de medida SDH para fornecer um sinal STM-1 elétrico;

b) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na sua saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

c) Verificar que o jitter seja menor ou igual a 0,01 UI rms utilizando-se um filtro passa-altas com frequência de corte 12 kHz;

d) Variar a frequência de entrada do tributário de ±20 ppm;

e) Verificar que o valor medido seja menor ou igual a 0,01 UI rms;

f) Repetir os procedimentos anteriores para outras interfaces de 155.520 kbit/s, quando aplicável.

4.1.4. Transferência de Jitter (aplicável somente a regeneradores)

4.1.4.1. Na figura 7 está representada a montagem de referência para testes.

Figura 7.

4.1.4.2. Instrumental de teste:

a) Instrumento de medida SDH;

b) Sintetizador;

c) Modulador de Fase;

d) Atenuador óptico;

e) Medidor de Jitter;

f) Simulador de Cabo de atenuação de 12,7 dB em 78 MHz.

4.1.4.3. Procedimento de teste:

Nota: o jitter intríseco do instrumental deverá ser considerado.

a) Programar o instrumento de medida SDH para fornecer um sinal STM-1 elétrico;

b) Ajustar o atenuador óptico para que tenha na saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

c) Programar o Modulador de Fase para gerar a máscara de aceitação de jitter conforme Figura 8 e Tabela 1;

Figura 8. Limite inferior para Tolerância de "Jitter" de Entrada para Equipamentos STM-N.

NÍVEL

STM

Amplitude pico a pico (UI)

Frequência (Hz)

A0 (18µs)

A1 (2µs)

A2 (0,25µs)

f12

f11

f10

STM-1

2800

311

1,5

0,15

12µ

178µ

1,6m

15,6m

0,125

19,3

500

6,5k

65k

1,3M

STM-4

11200

1244

156

1,5

0,15

12µ

178µ

1,6m

15,6m

0,125

9,65

1000

25k

250k

STM-16

44790

4977

622

1,5

0,15

12µ

178µ

1,6m

15,6m

0,125

12,1

5000

100k

20M

Tabela 1: Limites para Tolerância de "Jitter" para Equipamentos STM-N.

d) Verificar que o equipamento em teste apresente jitter de saída que esteja dentro dos limites impostos pela máscara da Figura 9 e Tabela 2;

Figura 9. Transferência de "Jitter".

NÍVEL STM	f_c (kHz)	P (dB)
STM-1 (A)	130	0,1
STM-1 (B)	30	0,1
STM-4 (A)	500	0,1
STM-4 (B)	30	0,1
STM-16 (A)	2000	0,1
STM-16 (B)	30	0,1

Tabela 2: Parâmetros de Transferência de "Jitter".

e) Repetir o procedimento acima para outras interfaces de 155.520 kbit/s, quando aplicável.

4.1.5. Tolerância de Jitter

4.1.5.1. A Figura 10 apresenta a montagem para teste.

Figura 10.

4.1.5.2. Instrumental de teste:

a) Instrumento de Medida SDH;

b) Sintetizador;

c) Modulador de Fase;

d) Atenuador Óptico;

e) Medidor de Taxa de Erro;

f) Simulador de Cabo com atenuação de 12,7 dB em 78MHz.

4.1.5.3. Procedimento de teste:

a) Programar o instrumento de medida SDH para fornecer um sinal STM-1 elétrico;

b) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

c) Programar o Modulador de Fase para gerar a máscara de aceitação de jitter conforme Figura 8 e Tabela 1;

d) Verificar que não ocorram erros no equipamento em teste;

e) Repetir o procedimento acima para outras interfaces de 155.520 kbit/s, quando aplicável.

4.1.6. Tolerância à Variação de Frequência na Entrada STM-1 Elétrica

4.1.6.1. A Figura 11 representa a montagem de referência para teste para equipamentos com Entrada SDH e Saída PDH.

Figura 11. Equipamentos com Entrada SDH e Saída PDH.

4.1.6.2. Instrumental de teste para equipamentos com Entrada SDH e Saída PDH:

a) Sintetizador de Frequências;

b) Gerador SDH;

c) Simulador de Cabo com atenuação de 12,7 dB em 78 MHz;

d) Medidor de Taxa de Erro para PDH.

4.1.6.3. Procedimento de teste para equipamentos com Entrada SDH e Saída PDH:

a) Programar o sintetizador de frequências para gerar um sinal de 155.520 kHz;

b) Sincronizar o gerador SDH com a saída do sintetizador de frequências;

c) Programar o gerador SDH para gerar um sinal STM-1 que transporte uma sequência PRBS como um tributário PDH;

sequência de teste PRBS com comprimento 2¹⁵-1 para tributário de 2M;
sequência de teste PRBS com comprimento 2¹⁵-1 para tributário de 2M;

d) Programar o equipamento em teste para rotear o tributário PDH transportado pelo sinal STM-1 de entrada para a saída PDH;

e) Através do medidor de taxa de erro, medir por 2 minutos na saída PDH um sinal sem taxa de erro;

f) Variar a frequência do sintetizador dentro dos limites de 155.520kHz ± 20 ppm (155.523.110,4 Hz a 155.516.889,6 Hz) e repetir a alínea anterior;

g) Repetir o procedimento para outras entradas STM-1 e saídas PDH.

4.1.6.4. A Figura 12 representa a montagem de referência para teste para equipamentos com Entrada SDH e Saída SDH.

Figura 12. Equipamentos com Entrada SDH e Saída SDH.

4.1.6.5. Instrumental de teste para equipamentos com Entrada SDH e Saída SDH:

a) Sintetizador de Frequências;

b) Gerador SDH;

c) Simulador de Cabo com atenuação de 12,7 dB em 78 MHz;

d) Analisador SDH.

4.1.6.6. Procedimento de teste para equipamentos com Entrada SDH e Saída SDH:

a) Programar o sintetizador de frequências para gerar um sinal de 155.520 kHz;

b) Sincronizar o gerador SDH com a saída do sintetizador de frequências;

c) Programar o gerador SDH para gerar um sinal STM-1 que transporte uma sequência PRBS como um tributário PDH;

sequência de teste PRBS com comprimento 2¹⁵-1 para tributário de 2M;
sequência de teste PRBS com comprimento 2¹⁵-1 para tributário de 2M;

d) Programar o equipamento em teste para rotear o tributário PDH transportado pelo sinal STM-N de entrada para o sinal STM-N de saída;

e) Através do analisador SDH, medir por 2 minutos na saída STM-N um sinal sem taxa de erro;

f) Variar a frequência do sintetizador dentro dos limites de 155.520kHz ± 20 ppm (155.523.110,4 Hz a 155.516.889,6 Hz) e repetir a alínea anterior;

g) Repetir o procedimento para outras entradas STM-1 e saídas STM-N.

4.2. Tolerância à Variação de Frequência na Entrada STM-N Óptica

4.2.1. A montagem de referência para teste deve respeitar os seguintes diagramas de blocos, das Figuras 13 e 14:

Figura 13. Equipamentos com Entradas SDH e Saída PDH.

Figura 14. Equipamentos com Entrada SDH e Saída SDH.

4.2.2. Instrumental de teste:

a) Sintetizador de Frequências;

b) Gerador SDH;

c) Atenuador Óptico;

d) Medidor de Taxa de Erro para PDH (aplicável à montagem da Figura 13);

e) Receptor Óptico de Referência (aplicável à montagem da Figura 14);

f) Analisador SDH (aplicável à montagem da Figura 14).

4.2.3. Procedimento de teste para uma entrada STM-N e uma saída PDH:

a) Programar o sintetizador de frequências para gerar um sinal de 155.520kHz ou 622.080kHz ou 2.488.320kHz (em função de ser uma entrada STM-1 ou STM-4 ou STM-16).

b) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na sua saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

c) Sincronizar o gerador SDH com a saída do sintetizador de frequências;

d) Programar o gerador SDH para gerar um sinal STM-N que transporte uma sequência PRBS como um tributário PDH;

Nota: O comprimento da sequência de teste PRBS para tributário de 2M é 2¹⁵-1 e para tributário de 34M e 140M, 2²³-1;

e) Programar o equipamento em teste para rotear o tributário PDH transportado pelo sinal STM-N de entrada para a saída PDH;

f) Através do medidor de taxa de erro, medir por 2 minutos na saída PDH um sinal sem taxa de erro;

g) Variar a frequência do sintetizador dentro dos limites de 155.520kHz ± 20ppm (155.523.110,4Hz a 155.516.889,6Hz) ou 622.080kHz ± 20 ppm (622.092.441,6 a 622.067.558,4) ou 2.488.320kHz ± 20 ppm (2.488.369.766,4Hz a 2.488.270.233,6Hz) e repetir a alínea f);

h) Repetir o procedimento para outras entradas STM-N e saídas PDH;

4.2.4. Procedimento de teste para uma entrada STM-N e saída STM-N:

Nota: Não há correspondência entre o N da entrada e o N da saída. Por exemplo, se o equipamento em teste for um ADM STM-16 com tributários STM-1, este procedimento é válido para entrada STM-16 e saída STM-16, para entrada STM-16 e saída STM-1 e para entrada STM-1 e saída STM-16.

a) Repetir as alíneas a), b), c) e d) do item 4.2.3;

b) Programar o equipamento em teste para rotear o tributário PDH transportado pelo sinal STM-N de entrada para o sinal STM-N de saída;

c) Através do analisador SDH, medir por 2 minutos na saída STM-N um sinal sem taxa de erro;

d) Variar a frequência do sintetizador dentro dos limites de 155.520kHz ± 20ppm (155.523.110,4Hz a 155.516.889,6Hz) ou 622.080kHz ± 20 ppm (622.092.441,6 a 622.067.558,4) ou 2.488.320kHz ± 20 ppm (2.488.369.766,4Hz a 2.488.270.233,6Hz) e repetir a alínea c);

e) Repetir o procedimento para outras entradas STM-N e saídas STM-N;

4.3. Comprimento de Onda de Operação

4.3.1. Montagem de referência para teste conforme Figura 15:

Figura 15.

4.3.2. Instrumental de teste:

a) Analisador de Espectro Óptico (AEO);

b) Atenuador óptico. Nota: Para lasers de baixa potência não é necessária a utilização de Atenuador Óptico

4.3.3. Procedimento de teste:

a) Medir a faixa de comprimento de onda de operação da fonte óptica.

4.3.4. Valores de referência:

a) De acordo com o que estabelecem as Tabelas 3, 4 e 5, dependendo do nível hierárquico STM.

Tabela 3. Parâmetros da Interface Óptica Especificados para a STM-1.

Tabela 4. Parâmetros da Interface Óptica Especificados para STM-4.

Tabela 5. Parâmetros da Interface Óptica Especificados para STM-16.

4.4. Largura Espectral

4.4.1. Montagem de referência para teste conforme Figura 16:

Figura 16.

4.4.2. Instrumental de teste:

a) Interferômetro de Mach Zendher a fibra com controle de polarização da luz;

b) Analisador de espectro elétrico com entrada óptica ou um analisador de espectro elétrico mais um conversor opto-elétrico. A banda passante mínima é de 1 kHz a 2 GHz.

4.4.3. Procedimento de teste:

a) Medir a largura espectral da fonte óptica e a mínima razão de supressão de modo lateral. Nota: Para LED's e lasers MLM, a largura espectral é dada pelo valor RMS e para lasers SLM, pela largura a -20 dB da potência de pico.

4.4.4. Valores de referência:

a) De acordo com o que estabelecem as Tabelas 3, 4 e 5, dependendo do nível hierárquico STM.

4.5. Potência Óptica Transmitida

4.5.1. Montagem de referência para teste, conforme Figura 17:

Figura 17.

4.5.2. Instrumental de teste:

a) Medidor de Potência Óptica (MPO).

4.5.3. Procedimento de teste:

a) Anotar a potência óptica indicado no medidor. Nota: A medida da potência óptica deve ser realizada no conector óptico, ou seja, no ponto S definido na Figura 18.

Figura 18. Pontos de Referência S e R.

4.5.4. Valores de referência:

a) De acordo com o que estabelecem as Tabelas 3, 4 e 5, dependendo do nível hierárquico STM.

4.6. Razão de Extinção

4.6.1. Montagem de referência para teste, conforme Figura 19:

Figura 19.

4.6.2. Instrumental de teste:

a) Atenuador Óptico;

b) Conversar óptico/elétrico com acoplamento DC e filtros apropriados (Receptor Óptico de Referência ROR);

c) Osciloscópio com entrada DC, de acordo com a Figura 19.

4.6.3. Procedimento de teste:

a) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na sua saída a potência de recepção especificada para o equipamento em teste;

b) Medir e anotar o valor da razão de extinção.

Nota: A medida da razão de extinção deverá ser feita para potências ópticas maiores ou iguais a potência média do centro da faixa dinâmica. Na potência mínima não há sensibilidade suficiente, na instrumentação, para a realização da medida.

4.6.4. Valores de referência:

a) De acordo com o que estabelecem as Tabelas 3, 4 e 5, dependendo do nível hierárquico STM.

4.7. Máscara de Diagrama de Olho no ponto S

4.7.1. Montagem de referência para teste, conforme Figura 19.

4.7.2. Instrumental de teste:

a) Fibra monomodo (SMF), de acordo com as Recomendações G.652, 653 ou 654, com menos de 10 m de comprimento;

b) Osciloscópio (OSC).

Nota: A função de transferência H(p) do receptor óptico de referência, de acordo com a Rec. G.957, é dada por:

H(p) = 1/105 (105 + 105y + 45y² + 10 y³ + y⁴)

y 2,114p p =jw/w_r w_r = 1,5pf₀

f₀ = taxa de bit f_r = 0,75f₀

4.7.3. Procedimento de teste:

a) Observar no osciloscópio a máscara do diagrama de olho e verificar que esteja dentro das especificações.

4.7.4. Valores de referência:

a) De acordo com a Figura 20:

Figura 20. Máscara do Diagrama de Olho para o Sinal Óptico Transmitido.

4.8. Sensibilidade do Receptor

4.8.1. Este teste foi baseado no documento EIAITIA-526-3-1989 - OFSTP-3 Fiber Optic Terminal Equipment Receiver Sensitivity and Maximum Receiver Input.

4.8.2. Montagem de referência para teste conforme Figuras 21 e 22.

Figura 21.

Figura 22.

4.8.3. Instrumental de teste:

a) Gerador de Padrões (GP);

b) Medidor de Taxa de Erro (MTE);

c) Atenuador Óptico (AO);

d) Acoplador Óptico (AC), com uma entrada e duas saídas com razão de acoplamento de 50%;

e) Medidor de Potência Óptica (MPO).

4.8.4. Procedimento de teste:

a) Conectar a saída óptica do equipamento em teste à entrada do receptor através do atenuador óptico e do acoplador óptico de acordo com a Figura 21;

b) Alimentar todas as entradas de tributário com sinal pseudo-aleatório, com as taxas correspondentes;

c) Selecionar um dos canais para se monitorar e conectar a saída correspondente ao canal escolhido ao medidor de taxa de erro;

d) Determinar o fator de calibração a ser aplicado à leitura do MPO para determinar o valor da potência óptica na entrada do receptor, da seguinte maneira:

Conectar o cabo de fibra óptica entre a porta 1 do acoplador óptico (AC) e o MPO. Ajustar o atenuador tal que a leitura no MPO seja a potência mínima necessária especificada pelo fabricante para atingir a BER especificada. Disconectar o conectar do MPO e conectá-lo ao conector do receptor;
Conectar outro cabo de fibra óptica da porta 2 do acoplador óptico à entrada do MPO. Ajustar ou calcular o fator de calibração para o MPO tal que a leitura do mesmo seja a potência óptica mínima especificada pelo fabricante necessária para atingir a BER especificada.

e) Ajustar o atenuador óptico para que se obtenha uma BER de 10-7. Determinar o tempo de monitoração de acordo com a Tabela 6:

Taxa de Dados

Tempo Mínimo de Monitoração

(segundos)

taxa de dados > 30 Mbit/s

(1/taxa de dados) x 10¹⁰

1 Mbit/s < taxa de dados < 30 Mbit/s

(1/taxa de dados) x 10^s

Tabela 6. Tempo mínimo de monitoração.

f) Anotar a potência recebida e a BER correspondente;

g) Ajustar o atenuador para obter taxas de erro na faixa de 10-8 a 10-4 ;

h) Usando uma folha de papel mono-log, traçar um gráfico com os valores medidos de potência recebida versus BER. Extrapolar a potência óptica recebida correspondente à BER especificada. Anotar o valor da potência recebida na BER desejada;

i) Se o equipamento em teste tiver entradas de tributário do mesmo tipo (por exemplo, 63 portas de 2M, ou 3 portas de 34M num equipamento STM-1), estas entradas podem ser conectadas serialmente, conforme a Figura 10. Desta forma, o desempenho de erro é monitorado na taxa de linha óptica [(taxa de dados efetivamente monitorada) = (número de canais serialmente conectados x taxa de dados)]. Esta técnica é mais precisa para taxa de erro baixa. Para calcular a BER na interface do sistema, use a seguinte fórmula:

BER na interface do sistema = BER/N,
onde BER é a taxa de erro medida para a configuração de teste mostrada na Figura 22 e N é o número de canais conectados serialmente.

j) Ajustar o atenuador óptico de forma a se obter o nível mínimo de potência recebida especificada para atingir a BER especificada. Monitorar o desempenho de erro pelo menor valor entre 24 horas e o tempo dado por: Tempo de monitoração = (1/taxa de dados) x (1/BER especificada) x 100 segundos.

k) Calcular a BER como se segue:

BER = (Total do # de bits errados)/(Total de bits transmitidos)
Total de bits transmitidos = taxa de dados(bits/s) x Tempo de monitoração(s)

l) Anotar o valor da BER calculada.

4.8.5. Valores de referência:

a) De acordo com o que estabelecem as Tabelas 3, 4 e 5, dependendo do nível hierárquico STM.

4.9. Potência de Saturação do Receptor

4.9.1. Montagem de referência para teste: conforme item 4.8.2.

4.9.2. Instrumental de teste: conforme item 4.8.3

4.9.3. Procedimento de teste:

a) Repetir o procedimento do item 4.8.4, com a potência de recepção ajustada ao nível máximo de potência recebida especificada.

Nota: A medida deve ser realizada quando a potência do transmissor for suficiente para saturar o receptor.

4.9.4. Valores de referência:

a) De acordo com o que estabelecem as Tabelas 3, 4 e 5, dependendo do nível hierárquico STM.

4.10. Refletância no Receptor

4.10.1. Montagem de referência para teste: conforme figura 23;

Figura 23.

4.10.2. Instrumental de teste:

a) Fonte Óptica Estável;

b) Medidor de Potência Óptica (MPO) de alta sensibilidade;

c) Refletor de Referência;

d) Acoplador Óptico (AC).

4.10.3. Procedimento de teste:

a) Fazer a medida de calibração das Figuras 23 (a), (b) e (c), que consiste em conectar a fonte na porta 3 do acoplador e medir a potência P32 na porta 2 do acoplador. Em seguida, conectar a fonte na porta 1 e medir a potência P13 na porta 3. Finalmente, conectar um "jumper" não refletor ou um refletor de referência, que provoque uma perda de retorno conhecida, na porta 3 do acoplador e medir a potência P0 na porta 2;

b) Fazer as conexões de acordo com a Figura 23 (d). Medir a potência PR na porta 2 do acoplador. A refletância do receptor é dada pela seguinte expressão: R= 10 log10 {[PS (PR - P0) ] / ( P13 P32)}

4.10.4. Valores de referência:

a) De acordo com o que estabelecem as Tabelas 3, 4 e 5, dependendo do nível hierárquico STM.

4.11. Funcionamento do Desligamento Automático do Laser (ALS)

4.11.1. Montagem de referência para teste: conforme Figura 24;

Figura 24.

4.11.2. Instrumental de teste:

a) Atenuador Óptico;

b) Osciloscópio;

c) Conversores Eletro-ópticos;

d) Splitter Óptico;

e) Instrumento de medida SDH.

4.11.3. Procedimento de teste:

a) Programar no instrumento de medida SDH um sinal óptico compatível com o equipamento em teste;

b) Uma saída do splitter é ligada à recepção óptica do equipamento em teste e a outra, após passar pelo conversor eletro-óptico, é ligada à entrada de trigger do osciloscópio;

c) A transmissão óptica do equipamento em teste é observada em um dos canais do osciloscópio após passar pelo conversor eletro-óptico;

d) Interromper o sinal na entrada do splitter, verificando no osciloscópio o instante da interrupção;

e) Observar no osciloscópio que o equipamento em teste ativou o ALS e observar o instante de ativação;

f) Religar o sinal de entrada do splitter observando o instante de sua ocorrência na tela do osciloscópio;

g) Verificar o instante em que a saída do equipamento em teste reaparece no osciloscópio.

4.12. Dispersão Máxima Admissível entre os pontos S e R

4.12.1. Montagem de referência para teste: conforme Figura 25.

Figura 25.

4.12.2. Instrumental de teste:

a) Gerador de Padrões;

b) Medidor de Taxa de Erro;

c) Cabo de Fibra Óptica com comprimento L ou simulador.

4.12.3. Procedimento de teste:

a) Calcular o comprimento do lance de cabo da seguinte forma:

L = D_SRmax / D_max,
onde D_SRmax é a dispersão máxima admissível especificada entre os pontos S e R e D_max é o máximo coeficiente de dispersão da fibra;

b) Conectar entre os pontos S e R o lance de fibras com comprimento calculado no inciso anterior;

c) Escolher um dos canais de tributário para se monitorar e conectar o sinal de saída do gerador de padrões à entrada do mesmo;

d) Conectar a saída do tributário correspondente à entrada escolhida ao medidor de taxa de erro e verificar a não ocorrência de erros.

Nota: Quando os equipamentos em teste utilizarem moduladores externos, o sistema a ser testado ficará limitado por atenuação. Desta forma, quando usarmos o comprimento de fibra necessário à D_SRmax o sistema não terá sensibilidade para permitir o alinhamento e mesmo com o uso de amplificadores ópticos a medida será comprometida, pois ruídos do amplificador serão introduzidos. Sugere-se que a medida, no caso de sistema limitado por atenuação, seja feita dentro do limite de atenuação e a avaliação da D_SRmax seja feita a partir da medida da dispersão para o comprimento de fibra que limita o sistema por atenuação.

4.13. Medidas de Jitter

4.13.1. Geração de Jitter:

4.13.1.1. Montagem de referência para teste: conforme Figura 26.

Figura 26.

4.13.1.2. Instrumental de teste:

a) Atenuador Óptico;

b) Receptor Óptico de Referência;

c) Medidor de Jitter.

4.13.1.3. Procedimento de teste:

a) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na sua saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

b) Medir o jitter do sinal STM-N elétrico e verificar que este, medido com filtro passa-altas com frequência de corte 12 kHz, seja menor do que 0,01 UI rms.

4.13.2. Transferência de Jitter (aplicável somente a regeneradores):

4.13.2.1. Montagem de referência para teste: conforme Figura 27.

Figura 27.

4.13.2.2. Instrumental de teste:

a) Sintetizador de Frequência;

b) Modulador de Fase;

c) Instrumento de Medida SDH;

d) Atenuadores Ópticos;

e) Receptor Óptico de Referência;

f) Medidor de Jitter.

4.13.2.3. Procedimento de teste:

a) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na sua saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

b) Programar o modulador de fase para gerar a máscara de aceitação de jitter conforme a Figura 28 e Tabela 7.

Figura 28. Máscara de aceitação de "Jitter".

Tabela 7. Parâmetros de aceitação de "Jitter".

c) Medir o jitter do sinal STM-N elétrico e verificar que este esteja dentro dos limites da máscara da Figura 9 e Tabela 2 (verificar o filtro utilizado na medição).

4.13.3. Tolerância de Jitter:

4.13.3.1. Montagem de referência para teste: Figura 29.

Figura 29.

4.13.3.2. Instrumental de teste:

a) Sintetizador de Frequência;

b) Atenuadores Ópticos;

c) Modulador de Fase;

d) Instrumento de Medida SDH.

4.13.3.3. Procedimento de teste:

a) Ajustar o atenuador óptico para que se tenha na sua saída a potência mínima de recepção especificada para o equipamento em teste;

b) Programar o modulador de fase para gerar a máscara de aceitação de jitter conforme a Figura 28 e Tabela 7 para regeneradores e Figura 8 e Tabela 1 para os demais equipamentos SDH;

c) Verificar que não ocorram erros.

4.14. Alarmes

4.14.1. Perda do sinal STM-N óptico:

4.14.1.1. Montagem de referência para teste: Figura 30.

Figura 30.

4.14.1.2. Instrumental de teste:

a) Gerador/Analisador PDH;

b) Instrumento de medida SDH;

c) Atenuador óptico.

4.14.1.3. Procedimento de teste:

a) Atenuar o sinal no ponto B da Figura 30 de forma que a BER seja superior a 10-3 no ponto C da mesma figura, ou retirar o sinal no ponto B e verificar que:

O equipamento em teste sinalize LOS, MS-SIA, AU-SIA, TU-SIA e apresente a indicação URG;
Seja recebido SIA no ponto C da Figura 30;
Seja recebido MS-RDI, HO-RDI e LO-RDI no ponto D da Figura 30;
Se estiver implementada a função MSP, observar nos bits 1, 2 e 3 do byte K1 o padrão “110” em até 250 µs;
Seja registrada (com ‘time-stamping”) a ocorrência dos eventos SES.

b) Retornar o sinal do ponto B da Figura 30 de forma que a BER seja inferior a 10-³ no ponto C da mesma figura e verificar que:

As indicações de LOS, SIA, RDI e URG sejam desativadas;
Se estiver implementada a função MSP, observar nos bits 1, 2 e 3 do byte K1 um padrão diferente de “110” em até 250 µs.

4.15. Sincronismo (aplicável somente quando o equipamento suportar tributários ou tiver característica de multiplex SDH)

4.15.1. Comutação Automática de Referências

4.15.1.1. Montagem de Referência para teste: conforme Figura 31.

Figura 31.

4.15.1.2. Instrumental de teste:

a) Sintetizadores de Frequências;

b) Frequencímetro;

c) Gerador de Padrões para 2.048kbit/s;

d) Instrumento de Medida SDH.

4.15.1.3. Procedimento de teste:

Nota: Caso o equipamento em teste, além da interface de saída de 2 MHz, apresente a interface de saída de sincronismo de 2 Mbit/s, o procedimento de teste relativo à interface de 2 MHz também deve ser realizado para a interface de 2 Mbit/s.

a) Programar o equipamento em teste para operar no modo reversível de sincronismo;

b) Programar no equipamento em teste a tabela das referências de sincronismo, como segue:

1ª referência (maior prioridade): um agregado STM-N;
2ª referência: uma entrada externa de 2MHz;
3ª referência: uma entrada externa de 2Mbit/s (quando aplicável);
4ª referência: um tributário STM-N (quando aplicável);
5ª referência: um tributário de 2Mbit/s (quando aplicável);
6ª referência: (menor prioridade): outro tributário de 2Mbit/s (quando aplicável);

c) Gerar na entrada da referência de maior prioridade um sinal com +4,6ppm, gerar na 2ª referência um sinal com -4,6ppm e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz +4,6ppm;

d) Provocar condição de falha (ausência de sinal) no sinal da entrada da referência de maior prioridade e realizar os seguintes procedimentos:

Comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz -4,6ppm;
Comprovar a geração de mensagem espontânea indicativa de ocorrência de comutação de referência;

e) Gerar na entrada da 3ª referência um sinal com +4,6ppm;

f) Provocar condição de falha (ausência de sinal) no sinal da entrada da referência e realizar os seguintes procedimentos:

Comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz +4,6ppm;
Comprovar a geração de mensagem espontânea indicativa de ocorrência de comutação de referência;

g) Gerar na entrada da 4ª referência um sinal com -4,6ppm, retirar o sinal da entrada da 3ª referência e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz -4,6ppm;

h) Gerar na entrada da 5ª referência um sinal com +4,6ppm, retirar o sinal da entrada da 4ª referência e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz +4,6ppm;

i) Gerar na entrada da 6ª referência um sinal com -4,6ppm, retirar o sinal da entrada da 5ª referência e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz -4,6ppm;

Nota 1: Se alguma(s) das 6 entradas de referência de sincronismo não se aplicar(em) ao tipo de equipamento em teste, o número de referências de sincronismo do procedimento de teste será menor e a(s) alínea(s) correspondentes entre e) e i) devem ser desconsideradas.

Nota 2: Caso a tabela de referências de sincronismo aceite mais do que 6 referências, os procedimentos das alíneas h) e i) devem ser repetidos sucessivamente até que reste apenas uma referência, a de menor prioridade.

j) Retirar o sinal da entrada de menor prioridade e realizar os seguintes procedimentos:

Comprovar, num período de 1 minuto, que na saída de sincronismo externo seja mantido um sinal com a mesma frequência anterior à retirada do sinal da entrada (equipamento no modo autônomo);

Nota: Este inciso se aplica apenas a equipamentos que não silenciem a saída de relógio durante a operação no modo autônomo ("holdover") ou livre ("free-running").

Comprovar a geração de mensagem espontânea indicativa de que o equipamento entrou no modo autônomo (ativação do alarme LTI - "Loss of Timing Inputs" e ativação da indicação URG no Sistema);

k) Gerar na entrada da 2ª referência um sinal com -2ppm e realizar os seguintes procedimentos:

Comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz -2ppm;
Comprovar a geração de mensagem espontânea indicativa de que o equipamento saiu do modo autônomo (desativação do alarme LTI - "Loss of Timing Inputs" e desativação da indicação URG no Sistema);

l) Gerar na entrada da referência de maior prioridade um sinal com +2ppm e realizar os seguintes procedimentos:

Comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz +2ppm;
Comprovar a geração de mensagem espontânea indicativa de ocorrência de comutação de referência;

m) Modificar no equipamento em teste a tabela das referências de sincronismo, mantendo apenas a lá referência (relógio recuperado de qualquer agregado STM-N) e desabilitando as outras;

n) Gerar na entrada correspondente à 1ª referência um sinal com +4,6ppm e na entrada externa de 2MHz um sinal com -4,6ppm;

o) Retirar o sinal da entrada correspondente à lá referência e comprovar, num período de 1 minuto, que na saída de sincronismo externo seja mantido um sinal com +4,6ppm (equipamento no modo autônomo);

Nota: Caso seja possível programar o equipamento em teste para operar no modo não reversível de sincronismo, realizar os procedimentos seguintes:

p) Programar no equipamento em teste a tabela das referências de sincronismo, como segue:

1ª referência (maior prioridade): um agregado STM-N;
2ª referência (menor prioridade): uma entrada externa de 2MHz.

q) Gerar na entrada da referência de maior prioridade um sinal com +4,6ppm, gerar na referência de menor prioridade um sinal com -4,6ppm e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz +4,6ppm;

r) Retirar o sinal da entrada da referência de maior prioridade e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz -4,6ppm;

s) Gerar novamente na entrada da referência de maior prioridade um sinal com +4,6ppm e comprovar que na saída de sincronismo externo é mantido um sinal de 2MHz -4,6ppm (referência de menor prioridade) mesmo com a presença da referência de maior prioridade.

4.15.2. Controle Manual de Comutação de Referências

Nota: Caso, adicionalmente à comutação automática de referências, o equipamento em teste obedeça a controle manual de comutação de referências, realisar os procedimentos seguintes:

4.15.2.4. Montagem de referência para testes conforme Figura 32.

Figura 32.

4.15.2.5. Instrumental de teste:

a) Sintetizadores de Frequências;

b) Frequencímetro;

c) Instrumento de Medida SDH.

4.15.2.6. Procedimento de teste:

a) Programar o equipamento em teste para realizar comutação manual de referências;

b) Programar no equipamento em teste a tabela das referências de sincronismo, como segue:

1ª referência: um agregado STM-N;
2ª referência: uma entrada externa de 2MHz;

c) Gerar na entrada de agregado STM-N (1ª referência) um sinal com +4,6ppm, gerar na entrada de 2MHz um sinal com -4,6ppm e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz +4,6ppm;

d) Provocar a comutação manual para a 2ª referência e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz -4,6ppm;

e) Provocar a comutação manual para a 1ª referência e comprovar na saída de sincronismo externo a presença de um sinal de 2MHz +4,6ppm;

f) Desconectar a entrada correspondente à 2ª referência;

g) Provocar a comutação para a 2ª referência e comprovar que não é possível esta operação.

4.15.3. Frequência de saída do relógio

4.15.3.1. Montagem de teste: conforme Figura 33.

Figura 33.

4.15.3.2. Instrumental de teste:

a) Frequencímetro capaz de realizar medidas de +/- 1 x 10-7.

4.15.3.3. Procedimento de teste:

a) Verificar, com o frequencímetro, que a saída de relógio está dentro da faixa de 2.048 kHz +/- 4,6ppm para o relógio do equipamento operando no modo livre.

4.15.4. Alarme LOS - Perda do sinal STM-N óptico:

4.15.4.1. Montagem de referência para teste: Figura 30.

4.15.4.2. Instrumental de teste:

a) Gerador/Analisador PDH;

b) Instrumento de medida SDH;

c) Atenuador óptico.

4.15.4.3. Procedimento de teste:

a) Atenuar o sinal no ponto B da Figura 30 de forma que a BER seja superior a 10-3 no ponto C da mesma figura, ou retirar o sinal no ponto B e verificar que:

O equipamento em teste sinalize LOS, MS-SIA, AU-SIA, TU-SIA e apresente a indicação URG;
Seja recebido SIA no ponto C da Figura 30;
Seja recebido MS-RDI, HO-RDI e LO-RDI no ponto D da Figura 30;
Se estiver implementada a função MSP, observar nos bits 1, 2 e 3 do byte K1 o padrão “110” em até 250 µs;
Seja registrada (com ‘time-stamping”) a ocorrência dos eventos SES.

b) Retornar o sinal do ponto B da Figura 30 de forma que a BER seja inferior a 10-³ no ponto C da mesma figura e verificar que:

As indicações de LOS, SIA, RDI e URG sejam desativadas;
Se estiver implementada a função MSP, observar nos bits 1, 2 e 3 do byte K1 um padrão diferente de “110” em até 250 µs.

4.15.5. Alarme LOT - Perda do sinal do Tributário:

4.15.5.1. Montagem de referencia para teste: Figura 30.

4.15.5.2. Instrumental de teste:

a) Gerador / Analisador PDH;

b) Instrumento de medida SDH;

c) Atenuador óptico.

4.15.5.3. Procedimento de teste:

a) No ponto E da Figura 30 retirar o sinal tributário de entrada e verificar que:

O equipamento em teste sinalize detecção de LOT e apresente indicação URG;
O sinal do tributário PDH correspondente no ponto D da Figura 30 seja SIA;

b) No ponto E da Figura 30, retornar o sinal tributário de entrada e verificar que as indicações de LOT e URG sejam desativadas.

4.15.6. Sinal Indicativo de Alarme - MS-SIA:

4.15.6.1. Montagem de referência para teste: figura 34.

Figura 34.

4.15.6.2. Instrumental de teste:

a) Gerador/Analisador PDH ou SDH, conforme o tributário;

b) Atenuadores ópticos;

c) Instrumento de medida SDH.

4.15.6.3. Procedimento de teste:

a) Gerar o byte K2 com padrão "111" nos bits 6, 7 e 8, no ponto B da Figura 34, em pelo menos 3 quadros consecutivos e observar que:

O equipamento em teste detecte recebimento de MS-SIA, AU-SIA, TU-SIA (quando aplicável) e que apresente indicação IND;
No ponto A da Figura 34, deverá ser recebido o padrão "110" nos bits 6, 7 e 8 do byte K2 (MS-RDI), além de HO-RDI e LO-RDI;
No ponto D da mesma figura será recebido SIA;
Se estiver implementada a função MSP, os bites 1, 2 e 3 do byte K1 devem apresentar o padrão "110" em até 250 μs;
O equipamento em teste registre (com "time-stamping") a ocorrência do evento SES.

b) Gerar byte K2 sem indicação de MS-SIA no ponto B da Figura 34, em pelo menos 3 quadros consecutivos e observar que:

As indicações MS-SIA, AU-SIA, TU-SIA (quando aplicável) e IND no equipamento em teste sejam desativadas;
Os bits 6, 7 e 8 o byte K2 apresentem padrão diferente de "110" no ponto A da Figura 34;
Se estiver implementada a função MSP, os bits 1, 2 e 3 do byte K1 devem apresentar um padrão diferente de "110" em até 250 μs;

4.15.7. Sinal Indicativo de Alarme - AU-SIA (aplicável ao terminal Multiplex com interface de tributário PDH)

4.15.7.1. Montagem de referência para teste: figura 35.

Figura 35.

4.15.7.2. Instrumental de teste:

a) Instrumento de medida SDH;

b) Instrumento de medida PDH;

c) Sintetizador.

4.15.7.3. Procedimento de teste:

a) O instrumento de medida SDH é conectado a uma das portas STM-N do equipamento em teste. O equipamento em teste deve adotar o sinal STM-N proveniente do instrumento de medida SDH como referência de sincronismo;

b) O instrumento de medida PDH é conectado a uma das portas de tributário PDH do equipamento em teste e deve ser programado para que possua taxa igual à da porta PDH do equipamento em teste;

c) No instrumento de medida SDH gerar um VC-4 transportando tributário PDH (2Mbit/s- VC-12, 34Mbit/s-VC-3, 140Mbit/s) compatível com o instrumento de medida PDH e com a interface de tributário PDH do equipamento em teste;

d) No instrumento de medida SDH gerar AU-SIA, no instrumento de medida PDH detectar SIA no tributário PDH e AU-SIA no equipamento em teste.

4.15.8. Sinal Indicativo de Alarme - AU-SIA (para equipamento com "loop-back" de VC-4):

4.15.8.1. Montagem de referência para teste: Figura 36.

Figura 36.

4.15.8.2. Procedimento de teste:

b) No instrumento de medida SDH gerar um VC-4 transportando tributário PDH de 140Mbit/s com sequência de bits conhecida;

c) No equipamento em teste realizar "loop-back" do VC-4 sob teste;

d) No instrumento de medida SDH comprovar que o VC-4 que retorna do equipamento em teste é igual ao gerado na alínea b);

e) No instrumento de medida SDH gerar AU-SIA e comprovar também no equipamento em teste que haja detecção de AU-SIA.

4.15.9. Sinal Indicativo de Alarme - TU-SIA

4.15.9.1. Montagem de referência para teste: figura 35.

4.15.9.2. Procedimento de teste:

b) O instrumento de medida PDH é conectado a uma das portas de tributário PDH do equipamento em teste e deve ser programado para que possua taxa igual à da porta PDH do equipamento em teste;

c) No instrumento de medida SDH gerar um VC-3 (ou VC-12, de acordo com a aplicação) transportando tributário PDH (34Mbit/s ou 2Mbits/s, de acordo com a aplicação) compatível com o instrumento de medida PDH e com a interface de tributário PDH do equipamento em teste;

d) No instrumento de medida SDH gerar TU-SIA no instrumento de medida PDH detectar SIA no tributário PDH e TU-SIA no equipamento em teste.

4.15.10. Sinal Indicativo de Alarme no Equipamento Remoto - MS-RDI - RDI de seção de multiplexação:

4.15.10.1. Montagem de referência para teste: figura 35.

4.15.10.2. Instrumental de teste: conforme item 4.15.7.2.

4.15.10.3. Procedimento de teste:

a) Gerar o byte K2 com padrão "110" nos bits 6, 7 e 8, no ponto B da Figura 36, em pelo menos 3 quadros consecutivos e observar que:

O equipamento em teste detecte o recebimento de MS-RDI e que apresente indicação IND;
O equipamento em teste registre (com "time-stamping") a ocorrência de evento SES.

b) Gerar byte K2 sem indicação de MS-RDI no ponto B da Figura 35, em pelo menos 3 quadros consecutivos e observar que:

as indicações MS-RDI e IND no equipamento em teste sejam desativadas.

4.15.11. Sinal Indicativo de Alarme no Equipamento Remoto - HO-RDI - RDI de via de ordem superior:

4.15.11.1. Montagem de referência para teste: figura 35.

4.15.11.2. Instrumental de teste: conforme item 4.15.7.2.

4.15.11.3. Procedimento de teste:

a) Gerar o byte G1 com padrão "XXXX 1XXX" no ponto B da Figura 36, em pelo menos 3 quadros consecutivos e observar que:

O equipamento em teste detecte recebimento de HO-RDI e que apresente indicação IND;
O equipamento em teste registre (com "time-stamping") a ocorrência do evento SES.

b) Gerar o byte G1 com padrão "XXXX 0XXX" no ponto B da Figura 35, em pelo menos 3 quadros consecutivos e observar que:

As indicações HO-RDI e IND no equipamento em teste sejam desativadas.

4.15.12. Alarme de perda de relógio de entrada (TIF):

4.15.12.1. Montagem de referência para teste: Figura 37.

Figura 37.

4.15.12.2. Instrumental de teste:

a) Sintetizador;

b) Atenuador Óptico.

4.15.12.3. Procedimento de teste:

a) Configurar o equipamento em teste para receber sincronismo externo de 2048 kHz;

b) Desconectar o relógio externo e observar que:

O equipamento em teste sinalize perda de relógio de entrada (TIF);
O equipamento em teste apresente indicação URG.

c) Conectar novamente a referência de sincronismo de 2048 kHz e verificar que as indicações TIF e URG desaparecem.

registrado em: Atos de Certificação de Produtos,2017

Assunto(s): Arpovação , Requisito , Caráter técnico , Avaliação , Conformidade , Produto de telecomunicações , Interfaces STM-N , Ato Normativo , Certificação de produto , NormaCertificação , AtoVigente